数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

数显薄膜测厚仪的使用注意事项：

1、微分筒移动距离应在刻度套管的刻线范围内，超出刻线不大于0.5mm。

2、数显薄膜测厚仪使用和检定前，请校对零位。

3、数显薄膜测厚仪测微螺杆和量面必须经常清洁，使用后可涂层防锈油。

4、电子数显部件，须防止油、水或其它液体浸入。

5、在长期不使用时，应将测厚仪电池取出。

6、数显薄膜测厚仪是精密量具，应防止撞击，以免影响准确度。