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测厚仪研制的关键问题

更新时间:2010-03-22      点击次数:3425

往返时间的测量有以下三种方法:

(1)测量发射波T与*次底波B1之间的时间;

(2)测量*次底波B1与第二次底波B2之间的时间;

(3)测量其后任意两相邻波之间的时间。

以上三种测量方式的选择可以通过不同的电路来实现,但它们对仪器的性能有很大的影响。如果选择*种测量方法,则因发射脉冲幅度特别大,且种测量方法,由于脉宽窄,能探测薄的材料,此时若用高频探头(10MHz),就能探测更薄的材料,因而拓宽了仪器测量下限。如果选择第三种测量方法,效果和第二种不相上下,但数据采集较困难,且杂波较多。第二和第三种测量方法的测量电路较复杂,成本较高。我们在研制过程中,考虑到量程要求,采用了第二种测量方法。为了方便实现电路,我们在发射超声波的同时设计了一个计数门,由门脉冲控制计数的起始位置。
 

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